24~30 GHz GaN HEMT单片集成单刀双掷开关
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TN43

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国家重点研发计划(2018YFB1802002);广东省"珠江人才计划"引进创新创业团队项目(2017ZT07X032)


A 24-30 GHz GaN HEMT SPDT switch MMIC
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    摘要:

    本文研究了一种基于100 nm氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺设计的24~30 GHz单片集成单刀双掷(SPDT)开关.该开关采用1/4波长微带线并联HEMT开关器件的结构,通过采用两级并联HEMT实现低插入损耗同时获得更好的隔离度.测试结果显示,在24~30 GHz的5G毫米波频段内以及0/-5 V的控制电压下,该开关的插入损耗低于1.5 dB,隔离度优于28 dB,输入功率1 dB压缩点大于27 dBm.测试结果能够很好地验证仿真结果.

    Abstract:

    A 24-30 GHz monolithic integrated Single-Pole Double-Throw (SPDT) switch based on 100 nm Gallium Nitride (GaN) High Electron Mobility Transistor (HEMT) process is presented in this paper.This switch adopts a quarter-wavelength microstrip line with parallel HEMT devices topology.By using two-stage parallel HEMT design, the SPDT achieves greater isolation while maintaining good Insertion Loss (IL).With a control voltage of 0/-5 V, the measured IL of this SPDT is less than 1.5 dB, the isolation is greater than 28 dB, and the input power 1 dB compression point is greater than 27 dBm within 24-30 GHz 5G millimeter-wave frequency bands.The measurement results well verify the simulations.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

曾丁元,朱浩慎,冯文杰,车文荃,薛泉.24~30 GHz GaN HEMT单片集成单刀双掷开关[J].南京信息工程大学学报(自然科学版),2021,13(4):444-449
ZENG Dingyuan, ZHU Haoshen, FENG Wenjie, CHE Wenquan, XUE Quan. A 24-30 GHz GaN HEMT SPDT switch MMIC[J]. Journal of Nanjing University of Information Science & Technology, 2021,13(4):444-449

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  • 收稿日期:2021-07-03
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  • 在线发布日期: 2021-10-11
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