嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究
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湖北省教育科学“十一五”规划项目(2009B-349)


Research on embedded system CRC algorithm design
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    摘要:

    介绍了CRC循环冗余校验基本原理及生成多项式表示,分别研究了嵌入式系统CRC-8-Dallas/Maxim与CRC-16-IBM生成多项式及其硬件描述.以DS18B20器件的ROMID/Scratchpad数据校验及Modbus总线网络数据帧校验为例,通过对生成多项式及硬件描述的分析研究得出了基本比特型校验算法设计,在数学推导的基础上得出了其改进的比特型校验算法及单字节、半字节查表校验算法.为获得更高的校验速度,提出了一种基于块及多表的校验算法,比较了几种校验算法的ROM空间占用与校验处理速度.所设计的CRC校验程序为嵌入式系统数据的可靠传输提供了重要保证.

    Abstract:

    This paper introduces the basic principle of Cyclic Redundancy Check(CRC) and the form of generating polynomial,analyzes the generating polynomial and hardware description of CRC-8-Dallas/Maxim and CRC-16-IBM in embedded system.In the case study of the data checking of ROM ID/Scratchpad of DS18B20 device and the bus network data frame checking of Modbus,through analyzing and researching into the generating polynomial and hardware description,the paper gets a basic bit-to-bit check algorithm design,then obtains an advanced bit-to-bit check algorithm and a single byte and a half byte table lookup check algorithm on the basis of mathematical derivation.In order to improve check speed,this paper proposes a new method based on block and multi-table checking algorithm.Comparison in ROM space occupancy and processing speed is carried out among all the above check algorithms.The designed CRC program provides support for the reliable transmission of embedded system data.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

彭伟.嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究[J].南京信息工程大学学报(自然科学版),2012,4(3):258-265
PENG Wei. Research on embedded system CRC algorithm design[J]. Journal of Nanjing University of Information Science & Technology, 2012,4(3):258-265

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  • 收稿日期:2011-11-02
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